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电子技术基础

样章
作者：
主编 何召兰 林喜荣 副主编 李胜明
定价：
68.00 元
版面字数：
610.00千字
开本：
16开
装帧形式：
平装
版次：
1
最新版次
印刷时间：
2026年
ISBN：
978-7-04-066923-7
物料号：
66923-00
出版时间：
2026-06-29
读者对象：
高等教育
一级分类：
电气/电子信息/自动化类
二级分类：
电子电气类核心课程

本教材吸取国内外优秀教材的精华，聚焦知识的最新应用，并融入国家级一流本科课程线上资源，由多年丰富电子技术教学经验的教师编写而成。内容包含模拟电子技术和数字电子技术共十章，每一章后都有Multisim仿真及练习、知识图谱、习题、习题详解与PPT，每一节都有“想一想”、随堂测试与答案和课程视频，附录有若干综合性实例电路的设计与实现。教材实现了“一书在手，所需都有”。

本教材既适用于电子信息类、电气工程类、自动化类本科专业电子技术基础课程，也适用于非电类本科专业电子技术基础课程，同时可供社会读者阅读。

  • 前辅文
  • 第1章 常用半导体器件
    • 1.1 半导体基本知识
      • 1.1.1 本征半导体
      • 1.1.2 杂质半导体
      • 1.1.3 PN结及其单向导电性
      • 随堂测试
    • 1.2 半导体二极管
      • 1.2.1 二极管的结构和类型
      • 1.2.2 二极管的伏安特性
      • 1.2.3 二极管的主要参数
      • 1.2.4 二极管的等效模型
      • 1.2.5 二极管电路及其分析方法
      • 1.2.6 特殊二极管
      • 随堂测试
    • 1.3 晶体管
      • 1.3.1 晶体管的基本结构
      • 1.3.2 晶体管的电流分配与放大作用
      • 1.3.3 晶体管的共发射极特性曲线
      • 1.3.4 晶体管的主要参数
      • 随堂测试
    • 1.4 场效应晶体管
      • 1.4.1 N沟道增强型MOS管
      • 1.4.2 N沟道耗尽型MOS管
      • 1.4.3 场效应管的主要参数
      • 1.4.4 场效应管与晶体管的比较
      • 随堂测试
    • 1.5 Multisim应用及练习
      • 1.5.1 半导体二极管特性测试
      • 1.5.2 晶体管特性测试
      • 1.5.3 仿真习题
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第2章 基本放大电路
    • 2.1 放大的概念和放大电路的主要性能指标
      • 2.1.1 放大的概念
      • 2.1.2 放大电路的主要性能指标
    • 2.2 共发射极放大电路
      • 2.2.1 电路组成
      • 2.2.2 静态分析
      • 2.2.3 动态分析
      • 2.2.4 静态工作点稳定的共发射极放大电路
      • 随堂测试
    • 2.3 共集电极放大电路
      • 随堂测试
    • 2.4 场效应管放大电路
      • 2.4.1 场效应管放大电路的静态分析
      • 2.4.2 场效应管放大电路的动态分析
      • 随堂测试
    • 2.5 差分放大电路
      • 2.5.1 基本差分放大电路
      • 2.5.2 长尾式差分放大电路
      • 2.5.3 差分放大电路的四种接法及其性能比较
      • 2.5.4 恒流源式差分放大电路
      • 随堂测试
    • 2.6 功率放大电路
      • 2.6.1 电路特点
      • 2.6.2 互补对称功率放大电路
      • 2.6.3 复合管互补输出级
      • 2.6.4 OCL电路的输出功率及效率
      • 随堂测试
    • 2.7 放大电路的频率特性
      • 2.7.1 频率响应概述
      • 2.7.2 一阶RC电路的频率响应
      • 随堂测试
    • 2.8 Multisim应用及练习
      • 2.8.1 测试电阻变化对共射放大电路静态工作点的影响
      • 2.8.2 研究消除互补输出级交越失真的方法
      • 2.8.3 仿真习题
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第3章 集成运算放大电路与反馈
    • 3.1 集成运算放大电路
      • 3.1.1 多级放大电路的耦合方式及动态分析
      • 3.1.2 集成运放的组成及电路结构特点
      • 3.1.3 集成运放的主要参数
      • 3.1.4 集成运放的电压传输特性
      • 随堂测试
    • 3.2 放大电路中的负反馈
      • 3.2.1 反馈的基本概念
      • 3.2.2 反馈的分类及判断
      • 3.2.3 反馈的框图和一般表达式
      • 3.2.4 负反馈放大电路的分析
      • 3.2.5 负反馈对放大电路性能的影响
      • 随堂测试
    • 3.3 振荡电路中的正反馈
      • 3.3.1 自激振荡概述
      • 3.3.2 RC正弦波振荡电路
      • 3.3.3 LC正弦波振荡电路
      • 3.3.4 石英晶体正弦波振荡电路
      • 随堂测试
    • 3.4 Multisim应用及练习
      • 3.4.1 运算放大器传输特性的测试
      • 3.4.2 RC桥式正弦波振荡电路的测试
      • 3.4.3 仿真习题
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第4章 集成运算放大器的应用
    • 4.1 理想运放的概念及特点
      • 4.1.1 理想运放的性能指标
      • 4.1.2 理想运放的两个工作区
    • 4.2 基本运算电路
      • 4.2.1 比例运算电路
      • 4.2.2 加减运算电路
      • 4.2.3 积分运算电路和微分运算电路
      • 4.2.4 对数运算电路和指数运算电路
      • 随堂测试
    • 4.3 有源滤波电路
      • 4.3.1 滤波电路的作用及分类
      • 4.3.2 低通滤波器
      • 4.3.3 其他滤波电路
      • 随堂测试
    • 4.4 运算放大器非线性应用电路
      • 4.4.1 单限比较器
      • 4.4.2 滞回比较器
      • 4.4.3 窗口比较器
      • 随堂测试
    • 4.5 非正弦波信号发生电路
      • 4.5.1 矩形波发生电路
      • 4.5.2 三角波发生电路
      • 4.5.3 锯齿波发生电路
      • 随堂测试
    • 4.6 Multisim应用及练习
      • 4.6.1 测试反相比例运算电路的性能
      • 4.6.2 滞回比较器电路的测试
      • 4.6.3 仿真习题
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第5章 直流电源
    • 5.1 直流电源的组成
    • 5.2 单相整流电路
      • 5.2.1 整流电路的基本参数
      • 5.2.2 单相半波整流电路
      • 5.2.3 单相桥式整流电路
      • 随堂测试
    • 5.3 滤波电路
      • 5.3.1 电容滤波电路
      • 5.3.2 其他形式的滤波电路
      • 5.3.3 倍压整流电路
      • 随堂测试
    • 5.4 稳压电路
      • 5.4.1 稳压管稳压电路
      • 5.4.2 串联型稳压电路
      • 5.4.3 集成稳压电路
      • 随堂测试
    • 5.5 开关型稳压电路
      • 5.5.1 串联开关型稳压电路
      • 5.5.2 并联开关型稳压电路
      • 随堂测试
    • 5.6 Multisim应用及练习
      • 5.6.1 单相桥式整流电路的特性测试
      • 5.6.2 串联型稳压电路的性能测试
      • 5.6.3 仿真习题
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第6章 逻辑代数基础
    • 6.1 数制和脉冲信号
      • 6.1.1 几种常用的数制及转换
      • 6.1.2 二进制算术运算
      • 6.1.3 几种常用的编码
      • 6.1.4 脉冲信号
      • 随堂测试
    • 6.2 逻辑代数中的基本运算和公式
      • 6.2.1 逻辑代数中的三种基本运算
      • 6.2.2 逻辑代数中的基本公式和常用公式
      • 随堂测试
    • 6.3 逻辑函数及其表示方法
      • 6.3.1 逻辑函数的描述方法
      • 6.3.2 逻辑函数的最小项之和形式
      • 随堂测试
    • 6.4 逻辑函数化简
      • 6.4.1 公式化简法
      • 6.4.2 卡诺图化简法
      • 6.4.3 具有无关项的逻辑函数及其化简
      • 随堂测试
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第7章 门电路和组合逻辑电路
    • 7.1 门电路
      • 7.1.1 半导体二极管门电路
      • 7.1.2 CMOS门电路
      • 7.1.3 TTL门电路
      • 随堂测试
    • 7.2 组合逻辑电路的分析和设计
      • 7.2.1 组合逻辑电路的分析
      • 7.2.2 组合逻辑电路的设计
      • 随堂测试
    • 7.3 常用组合逻辑电路
      • 7.3.1 编码器
      • 7.3.2 译码器
      • 7.3.3 加法器
      • 7.3.4 数据选择器
      • 7.3.5 数值比较器
      • 随堂测试
    • 7.4 Multisim应用及练习
      • 7.4.1 测试CMOS反相器的电压传输特性
      • 7.4.2 3线-8线译码器74HC138的功能测试及应用
      • 7.4.3 数值比较器74HC85的功能测试及应用
      • 7.4.4 仿真习题
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第8章 触发器和时序逻辑电路
    • 8.1 双稳态触发器
      • 8.1.1 SR触发器
      • 8.1.2 JK触发器
      • 8.1.3 边沿触发器
      • 随堂测试
    • 8.2 时序逻辑电路的分析和设计
      • 8.2.1 时序逻辑电路的分析方法
      • 8.2.2 时序逻辑电路的设计方法
      • 随堂测试
    • 8.3 常用时序逻辑电路
      • 8.3.1 寄存器和移位寄存器
      • 8.3.2 计数器
      • 8.3.3 顺序脉冲发生器
      • 随堂测试
    • 8.4 555定时器及其应用
      • 8.4.1 555定时器的电路结构和功能
      • 8.4.2 555定时器组成的单稳态触发器
      • 8.4.3 555定时器组成的多谐振荡器
      • 随堂测试
    • 8.5 Multisim应用及练习
      • 8.5.1 研究边沿JK触发器的触发条件和功能
      • 8.5.2 分析计数器异步置零和同步置数的区别
      • 8.5.3 仿真习题
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第9章 存储器和可编程逻辑器件
    • 9.1 只读存储器
      • 9.1.1 ROM的结构和工作原理
      • 9.1.2 ROM的应用举例
      • 随堂测试
    • 9.2 随机存储器
      • 9.2.1 RAM的结构
      • 9.2.2 RAM的工作原理
      • 9.2.3 存储器容量的扩展
      • 随堂测试
    • 9.3 可编程逻辑器件
      • 9.3.1 可编程逻辑器件的表示方法
      • 9.3.2 可编程逻辑阵列
      • 9.3.3 可编程阵列逻辑
      • 9.3.4 通用逻辑阵列
    • 9.4 硬件描述语言
      • 9.4.1 Verilog HDL简介
      • 9.4.2 用Verilog HDL描述逻辑电路的实例
      • 随堂测试
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 第10章 模拟量和数字量转换
    • 10.1 D/A转换器
      • 10.1.1 倒T形电阻网络D/A转换器
      • 10.1.2 权电流型D/A转换器
      • 10.1.3 D/A转换器的主要技术指标
      • 随堂测试
    • 10.2 A/D转换器
      • 10.2.1 A/D转换基本原理
      • 10.2.2 逐次逼近型A/D转换器
      • 10.2.3 双积分型A/D转换器
      • 10.2.4 A/D转换器的主要技术指标
      • 随堂测试
    • 10.3 Multisim应用及练习
      • 10.3.1 A/D转换电路的仿真分析
      • 10.3.2 D/A转换电路的仿真分析
      • 10.3.3 仿真习题
    • 本章知识图谱
    • 习题
  • 附录A 综合训练实例
  • 附录B 常用半导体器件型号和技术参数
  • 参考文献

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